Microfocus x - מקור קרן

הדמיה ברזולוציה גבוהה
Microfocus x - מקורות קרניים משיגים תת - מיקרון גדלי נקודה מוקדית (עד 0.5 מיקרומטר), מה שמאפשר גילוי של פגמים הקטנים מ- 1 מיקרומטר בדגימות תעשייתיות. דיוק זה חשוב מאוד לניתוח רכיבים מיקרו -אלקטרוניים ותאי סוללה.

 

 

משולב עם ספקי כוח מתח- מתח מתח, יחידות MFX מודרניות שוקלות מתחת ל 50 ק"ג, אפילו חשבו 5 ק"ג, מקלים על בדיקת inline או Oofline בקווי ייצור אוטומטיים.

ענף מוליכים למחצה: מגלה חלל מפרקים של הלחמה ומומים בקשר תיל בצ'יפס וסדקים במתכת, כמו, חלקי דיסק, חלקי אלומיניום וכו '.

 

בקרת איכות הסוללה: מגלה אי -אחידות אלקטרודה וחלוקת אלקטרוליטים בליתיום - תאי יון.

חומרים מתקדמים: מנתח את נקבוביותם של סגסוגות מודפסות תלת -ממדיות ומבנים מורכבים.

שוק MFX הגלובלי צפוי לצמוח ב- CAGR של 8.3% (2023 - 2032), מונע על ידי ביקוש לבדיקה לא הרסנית של
רכבים חשמליים ו- AI - מערכות פיקוח מבוססות.

יצרנים סיניים כמו טכנולוגיית Dinghua מאיצים את הלוקליזציה, ומפחיתה את התלות בספקים זרים.